武汉 铬矿光谱化验设备检测 QCYQ-JS9000B矿石**光谱仪

南京乾诚检测仪器有限公司企业精神 精诚合作 务实创新 开拓进取 服务承诺 免费安装 提供化学分析方法 免费调试 提供分析工艺流程 免费运输 损耗由本公司负责 免费培训 帮助筹建化验室 仪器实行终身服务 售后服务实行二十四小时响应 主要客户：金属铸造、金属加工 金属制造、金属制品 矿山开发、采矿、矿石生产、加工等和金属行业、矿石有关的企业和个体
产品特点 1.小型化、高性能、高速度、易操作，高灵敏度、高精度分析 2.可同时分析40种元素 3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术 4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率 5.记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统 6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作 7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限

制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器
真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限
可同时分析40种元素
可分析固体，液体，粉末和泥浆
进口X光管管芯提供可靠**样品激发性能
无损检测，快速分析（1-2分钟出结果）
*化学试剂，无耗材，更环保。

仪器配置
>标准配置 >可选配置
纯Ag初始化标样 磨样机
真空泵 压片机
矿石**样品杯 烘干箱
USB数据线 全自动熔样机
电源线 电子秤
测试薄膜 矿石标准物质
仪器出厂和标定报告 交流净化稳压电源
保修卡 150目筛子

全新设计的XTEST分析软件 软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。 光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量 对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。 谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图 可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。 可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的小二乘拟合进行定量分析。 基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。
我们公司奉行“创意”秉承“客户至上，以人为本、以诚取信、以质取胜、以新争天下”的质量方针和“正正直直做人，踏踏实实做事”的企业精神。
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