武汉 铬矿光谱分析仪器分析 QCYQ-JS9000B矿石**光谱仪

南京乾诚检测仪器有限公司产品适用于钢铁 冶金 铸造 矿业 化工 机械 建筑等行业 “诚信创新 锐意进取 客户至上”是公司坚持的产品质量和销售 服务方针。 对用户的售后服务需求在时间作出反应，为用户提供优质产品及高质量的服务。
仪器参数
仪器外观尺寸: 565mm*385mm*415mm
**大样品腔：465mm*330mm*110mm
半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm
仪器重量: 48Kg
元素分析范围：Na11-U92钠到铀
可分析含量范围：1ppm- 
探测器：AmpTek 分辨率电制冷Fast SDD硅漂移检测器
探测器分辨率：122 eV FWHM at 5.9 keV
处理器类型：全数字化DP-5分析器
谱总通道数：4096道
X光管：高功率50瓦光管（进口管芯），冷却方式：硅脂冷却
光管窗口材料：铍窗
准直器：多达8种选择，小0.2mm
滤光片：7种滤光片的自由选择和切换
高压发生装置：美国高压，电压输出：0-50kV；输出电流：0-1mA
高压参数：小5kv可控调节，自带电压过载保护，输出精度：0.01%
样品观察系统：500万像素高清CCD摄像头
电压：220ACV 50/60HZ
环境温度：-10 °C 到35 °C

全新设计的XTEST分析软件 软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。 光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量 对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。 谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图 可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。 可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的小二乘拟合进行定量分析。 基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。

制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器
真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限
可同时分析40种元素
可分析固体，液体，粉末和泥浆
进口X光管管芯提供可靠**样品激发性能
无损检测，快速分析（1-2分钟出结果）
*化学试剂，无耗材，更环保。

产品特点 1.小型化、高性能、高速度、易操作，高灵敏度、高精度分析 2.可同时分析40种元素 3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术 4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率 5.记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统 6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作 7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限
我们公司以客户为中心、以质量为核心、长期坚持互惠互利”的经营方针”，热情的为您服务，以优惠的价格回报客户。
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